| 《计算机学报》文章摘要 全文下载 | |
| 文章题目 | 通过单扫描链的构造实现最小测试应用时间 |
| 作者 | 李兆麟 叶以正 毛志刚 |
| 作者单位 | (哈尔滨工业大学微电子中心 哈尔滨 150001) |
| 发表年份 | 1999 |
| 发表月份 | 12期 （页码：1280—1288) |
| 文章摘要 | 在交迭测试体系［1,2］的基础上提出了一种利用二选一开关辅助扫描寄存器的排序、能够实现最小测试应用时间的单扫描链的构造方法,给出了单扫描链的构造规则.此外还分析了由于二选一开关的引入带来的硬件开销问题,提出了一个能够减少硬件开销的算法. 关键词 集成电路测试,最小测试应用时间,单扫描链,硬件开销. |