| 《计算机学报》文章摘要 全文下载 | |
| 文章题目 | 带时间参数的测试产生 |
| 作者 | 李华伟 李忠诚 闵应骅 |
| 作者单位 | (中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室 北京 100080) |
| 发表年份 | 1999 |
| 发表月份 | 4期 （页码：390—394) |
| 文章摘要 | 时延测试对于高速集成电路非常重要. 本文介绍一个带时间参数的时延测试产生系统.该系统使用一个时刻逻辑值表来表示一个波形,并将输入波形限制为只有唯一的一个输入在0时刻有跳变,其它输入为稳定的0或1,从而实现了波形敏化条件下的时延测试产生. 与以往的不考虑时间因素的时延测试产生系统相比,带时间参数的测试产生提高了故障覆盖率,并且更接近于电路的实际. 关键词 时间参数,测试产生,波形敏化. |