《计算机学报》文章摘要   全文下载
文章题目	ASIC测试生成和可测性分析系统ATGTA
作者	曾芷德
作者单位	(国防科学技术大学计算机研究所 长沙 410073)
发表年份	1998
发表月份	5期
文章摘要	本文介绍了一个面向非扫描设计的实用的ASIC测试生成和可测性分析系统——ATGTA.它采用功能块级同步时序电路模型和功能块引腿固定故障模型.可接收四种常用语言描述的电路网表.用FDCM方法引导测试生成过程，用DRFM方法识别组合冗余故障，通过测度分析与规则判定相结合识别时序电路中的不可测故障.用G-F二值算法按有限回溯测试模式产生方法推导测试向量.反向追踪时，采用宽度和深度动态交替优先策略.ATGTA已实际用于四万门以内的非扫描单双向ASIC芯片，效果良好.