| 《计算机学报》文章摘要 全文下载 | |
| 文章题目 | 一个有效的通路时滞故障测试生成系统DTPG |
| 作者 | 龙望宁 *闵应骅 **杨士元 ***李忠诚 |
| 作者单位 | (清华大学自动化系 北京 100084) *(中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室 北京 100080) **(清华大学计算机科学与技术系 北京 100084) ***(中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室 北京 100080) |
| 发表年份 | 1998 |
| 发表月份 | 4期 |
| 文章摘要 | 本文提出了一种两向量测试模式下的通路时滞故障分类,并在此基础上设计并实现了一个有效的通路时滞故障测试生成系统DTPG,该系统可识别强健可测通路、非强健可测通路和功能可敏化通路.DTPG用通路标识值来表示通路,并用一个位表结构的通路信息表来存储通路测试信息.实验结果表明,DTPG在利用内存上是有效的,可以为通路数较大的电路(如C3540)产生时滞测试向量对. |