《计算机学报》文章摘要   全文下载
文章题目	验证包含黑盒的电路设计的有效方法
作者	李光辉1）,2）,3） 邵明1）,3） 李晓维1）,3）
作者单位	1）（中国科学院计算技术研究所 北京 100080） 2）（浙江林学院信息工程学院 杭州 311300） 3）（中国科学院研究生院 北京 100039）
发表年份	2004
发表月份	6期(796-802)
文章摘要	摘要 在超大规模集成电路设计中，为了进行早期的设计错误检测与调试或层次化验证，常常需要使用含黑盒的设计验证方法.该文提出了一种结合逻辑模拟和布尔可满足性的黑盒验证方法，用于验证设计中黑盒外部的功能正确性.该方法使用量化的合取范式(CNF)来表示电路中出现的未知约束，并且不需要修改电路结构，有效地节省了计算资源.此外，通过使用随机并行模拟增强了可满足性算法的错误检测能力.通过对ISCAS’85电路的实验表明了该方法不仅比以往同类算法速度快，而且具有较好的错误检测能力. 关键词 布尔可满足性；功能验证；黑盒；布尔比较；逻辑模拟 中图法分类号 TP306