| 《计算机学报》文章摘要 全文下载 | |
| 文章题目 | 一种低成本的测试码自动产生算法 |
| 作者 | 石 茵 魏道政 |
| 作者单位 | (中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室 北京 100080) |
| 发表年份 | 1997 |
| 发表月份 | 8期 （页码：759—-768) |
| 文章摘要 | 为了降低超大规模集成电路(VLSI)测试中的测试产生和测试应用代价,本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法——临界路径跟踪测试产生(CPTTG).本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技术三个方面, 介绍CPTTG的主要思想和关键技术.文中给出了CPTTG对国际通用的10个组合电路范例的实验结果,表明了CPTTG可以在较短时间内获得 具有较高故障覆盖率的较小测试集. |