| 《计算机学报》文章摘要 全文下载 | |
| 文章题目 | 低密度校验码在瑞利衰落信道中的性能分析 |
| 作者 | 孙韶辉 贺玉成 王新梅 |
| 作者单位 | （西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室 西安 710071） |
| 发表年份 | 2002 |
| 发表月份 | 10期 （页码：1077—1082) |
| 文章摘要 | 低密度校验（LDPC）码具有编码增益高、译码速度快、可并行译码等特点，是当前编码界的一个研究热点，但是目前已有的研究成果都集中在高斯信道上.该文分析和讨论了LDP C码在瑞利衰落信道下的性能，应用联合界技术推导了一个规则码的性能限，并给出了仿真结果，且发现LDPC码在瑞利衰落信道下也具有非常好的性能. 关键词 低密度校验码，瑞利衰落信道，规则码，非规则码 中图法分类号：TP309 |